“熱試驗”就是我們所說的“溫升試驗”。試驗的目的是獲得電機繞組、滑環、換向器、軸承等發熱元件在規定工況下運行并達到熱穩定性時的溫度或溫升值。檢查被測電機的絕緣材料、生產工藝與正常運行和設計壽命的匹配關系。熱值也是計算電機定、轉子繞組銅損和計算效率的必要參數。

根據試驗是否加載，有直接加載法和間接加載法兩種。為保證電機試驗和使用的一致性，應盡可能采用直接加載法。負載可以根據具體情況選擇，也可以根據實際負載選擇，即實際應用中電機帶來的負載。然而，在許多情況下，只能使用間接測量和計算。沈女士今天就給大家介紹幾種常見的測量方法。

通過溫升或溫度的常用測量方法

試驗過程中，電機不同部位的溫度應采用不同的測量方法和測量儀器設備。常用的方法有溫度計法、電阻法、疊加法、嵌入式溫度檢測元件法和紅外測溫法。

埋置測溫元件法

嵌入式測溫元件法，簡稱ETD法，是將測溫元件嵌入電機(電阻溫度計、熱電偶、熱敏電阻或半導體溫度計等)中的一種測溫方法。)作為溫度傳感元件，獲得的溫度信號通過導線傳輸到外部匹配儀器，從而顯示被測元件的溫度。測量溫度是測量點的局部溫度值。

在實際測試過程中，被測溫度與測溫元件的放置位置直接相關。各電機制造商應通過積累大量的測量數據，為不同的電機結構確定合適的放置位置，從而客觀反映電機的熱性能。

紅外測溫法

紅外測溫更適合測量電機表面(如電機外殼和電機外露內部部件(如滑環和換向器等)的溫度。).使用的設備是“紅外線溫度計”。在實際使用中，可能會發現紅外測溫儀測得的溫度只是局部溫度，與被測距離、角度、零件顏色等直接相關。而實測數據只是一個不準確的定性數據。

溫度計法

溫度計的測溫元件直接貼在被測元件上，得到其溫度，被測溫度就是測點的局部溫度值。使用的溫度計包括水銀或酒精膨脹溫度計、半導體溫度計、非嵌入式熱電偶或電阻溫度計等。在實際測試過程中，使用水銀溫度計是比較常見的。

特別是水銀溫度計不適合電機，因為有很強的交變磁場。當它通過溫度計中的水銀時，會在其中產生感應電流，導致水銀升溫，導致指示值出現額外誤差。

電阻法

方法電阻法這種間接測溫法特別適用于不能用溫度計直接測量的發熱元件的溫度測量。該測量方法基于金屬導體在一定溫度范圍內電阻值與溫度之間的數學關系原理，通過測量導體電阻值的變化來計算溫度變化。

電機的電阻變化是指熱態電阻值與冷態電阻值之差，熱態電阻值是在電機溫升穩定，電機停止運行后測得的。

因為測得的電阻值是整個導體的平均值，所以如此計算的導體溫度也是整個導體溫度的平均值。

疊加法

這種方法是在不中斷交流負載電流的情況下，通過在負載電流上疊加一個微弱的DC電流來測量繞組DC電阻隨溫度的變化。

從探測原理來看，疊加法實際上是一種阻力

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